Hunt-Benito/samsung-exynos-sms-stack-overflow-cve-2025-54328-critical-zero-click-baseband-rce
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针对 Samsung Exynos 基带固件 CVE-2025-54328 漏洞的概念验证工具，可生成触发严重零点击 RCE 的恶意 SMS 消息。
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# CVE-2025-54328 — Samsung Exynos SMS RP-DATA 栈缓冲区溢出
CVE-2025-54328 的概念验证，这是 Samsung Exynos 基带固件 SMS RP-DATA 解析器中一个 CVSS 10.0 严重的基于栈的缓冲区溢出漏洞。
## 文章
完整分析文章：**[Samsung Exynos SMS 栈溢出：CVE-2025-54328 — 严重的零点击基带 RCE](https://www.hunt-benito.com/samsung-exynos-sms-stack-overflow-cve-2025-54328-critical-zero-click-baseband-rce/)**
## PoC
```
python3 poc_cve_2025_54328.py +4412345678
```
生成一个包含超长 TPDU 负载的原始 RP-DATA 消息，该消息将在 Shannon 基带固件的 SMS 解析器中触发基于栈的缓冲区溢出。
**这是一个概念验证。** 如果没有针对目标基带版本的特定内存布局和固件 gadget 地址，它无法利用生产环境中的设备。
## 要求
- Python 3.6+
## 传递方式
注入生成的消息需要以下方式之一：
- 一个伪造的 BTS (OpenBTS / srsRAN) + SDR (USRP / HackRF)
- 一个支持原始 PDU 模式访问的 SMS 网关
- 通过基带上的 JTAG / UART 进行直接内存注入
## 免责声明
此代码**仅供教育和授权安全研究使用**。未经授权访问计算机系统是非法的。
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